Étude de la fiabilité et des mécanismes de dégradation dans les composants numériques de dernière génération

Autor:	COUTET, Julien
Přispěvatelé:	Marc, François, Maneux, Cristell, Anghel, Lorena, Girard, Patrick, Moreau, Christian, Lavagne, Suzel
Jazyk:	francouzština
Předmět:	DSM HCI NBTI Modélisation CMOS PBTI Fiabilité Statistique Vieillissement FPGA VLSI Flash NAND
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______9631::ab4871fabc2433107113291387d1a76d http://hdl.handle.net/20.500.12278/112357 Zobrazit plný text záznamu