Resistance measurement of individual Ag nanowires and interconnects

Autor: Chernukha, Yevheniia, Papanastasiou, Theodora, Lerond, Thomas, Bardet, Laëtitia, Deresmes, D., Melin, Thierry, Gangloff, Laurent, Bellet, Daniel, Berthe, Maxime
Přispěvatelé: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Laboratoire des matériaux et du génie physique (LMGP ), Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN (PCMP - IEMN), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Physique - IEMN (PHYSIQUE - IEMN), Thales Research and Technologies [Orsay] (TRT), THALES [France], PCMP PCP, Renatech Network, ANR-18-CE09-0036,PANASSE,Assemblage planaire de nanofils pour émission sur parois latérales(2018)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2021
Předmět:
Zdroj: Journées du GDR Nanosciences with near-field microscopy under ultra high vacuum 2021
Journées du GDR Nanosciences with near-field microscopy under ultra high vacuum 2021, Nov 2021, Toulouse, France
Popis: Poster P9-01; National audience
Databáze: OpenAIRE