Comparison of BULK and Ultra-Thin Double Gate SOI MOSFETs for the 65 nm Technology Node: a Monte-Carlo Study
| Autor: | BRACCIOLI, MARCO, EMINENTE, SIMONE, FIEGNA, CLAUDIO, P. Palestri, D. Esseni |
|---|---|
| Přispěvatelé: | M. Braccioli, S.Eminente, P.Palestri, D.Esseni, C.Fiegna |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2005 |
| Předmět: | |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|