Variability and failure of set process in HfO2 RRAM2013 5th IEEE International Memory Workshop

Autor:	Balatti, Simone, Ambrogio, Stefano, Ielmini, Daniele, Gilmer, D. C.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2013
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3731::8f34acf4580f18e4a33e04933cf1344a http://hdl.handle.net/11311/764771 Zobrazit plný text záznamu