Understanding endurance degradation in Flash memory through transconductance measurement

Autor:	Verma, S., Bersuker, G., Gilmer, D. C., Padovani, Andrea, Park, H., Nainani, A., Huang, J., Parat, K., Kirsch, P. D., Larcher, Luca, Tseng, H. H., Jammy, K. C. Saraswat R.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2009
Předmět:	TANOS reliability transconductance degradation
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3674::b487b1ec76b485da924170dd9050230a https://hdl.handle.net/11380/655653 Zobrazit plný text záznamu