Reliability of power pseudomorphic HEMT’s submitted to termal and hot-electrons tests

Autor:	Sala, D., Kellner, W., Grave, T., Gatti, M., Meneghesso, Gaudenzio, Vendrame, L., Camporese, G., Bortolan, B., Zanoni, Enrico
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	1995
Předmět:	reliability HEMTs Gallium Arsenide degradation
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3657::e2d950310aa96a19b73618f5f70e545b http://hdl.handle.net/11577/2522071 Zobrazit plný text záznamu