Tribology-Structure Relationships in Silicon Oxycarbide Thin Films

Autor:	Ryan, Jv, Colombo, Paolo, Howell, Ja, Pantano, Cg
Rok vydání:	2010
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3657::b9730568363ef8c8bc2ad461933906ee http://hdl.handle.net/11577/2423332 Zobrazit plný text záznamu