Defect diagnostics of degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current ageing

Autor:	Cavallini, A., Castaldini, A., Meneghesso, Gaudenzio, Levada, Simone, Pierobon, Roberto, Rampazzo, Fabiana, Zanoni, Enrico, Scamarcio, G., Du, S., Eliashevich, I.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2003
Předmět:	reliability light emitting diodes InGaN degradation
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3657::92da1ec2e375e127661f436d1994f4c0 http://hdl.handle.net/11577/2430094 Zobrazit plný text záznamu