III-N optoelectronics: defects, reliability and challenges
Autor: | Meneghini, M., De Santi, C., Buffolo, M., Caria, A., Piva, F., Casu, C., Roccato, N., Carlin, J. F., Grandjean, N., Tibaldi, A., Bertazzi, F., Goano, M., Verzellesi, G., Trivellin, N., Meneghesso, G., Zanoni, E. |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2022 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |