On-state breakdown measurements in GaAs MESFETs and InP-based HEMTs

Autor:	Zanoni, Enrico, Meneghesso, Gaudenzio, Bortoletto, A., Maretto, M., Massari, G., Buttari, D.
Rok vydání:	1999
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3657::2136e534fb7ef326c331c1e9739da8e4 http://hdl.handle.net/11577/172895 Zobrazit plný text záznamu