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We present a novel noncontact, photothermal technique, based on the focus error signal of a commercial CD pickup head that allows direct determination of absorption in thin films. Combined with extinction methods, this technique yields the scattering contribution to the losses. Surface plasmon polaritons are excited using the Kretschmann configuration in thin Au films of varying thickness. By measuring the extinction and absorption simultaneously, it is shown that dielectric constants and thickness retrieval leads to inconsistencies if the model does not account for scattering. Fil: Domené, Esteban Alejo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Física. Laboratorio de Electrónica Cuántica; Argentina Fil: Balzarotti, Francisco. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Física. Laboratorio de Electrónica Cuántica; Argentina Fil: Bragas, Andrea Veronica. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Física. Laboratorio de Electrónica Cuántica; Argentina Fil: Martínez, Oscar Eduardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Física. Laboratorio de Electrónica Cuántica; Argentina |
