Feasibility of sub-micron XRF combined to Scanning probe Microscopy
| Autor: | Tonneau, D., Dehlinger, M., Fauquet, C., Jandard, F., Bjeoumikhov, A., Erko, A., Zizak, I., Ferrero, S., Pailharey, D., Dahmani, B. |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille (CINaM), Aix Marseille Université (AMU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | DENVER X-RAY CONFERENCE DXC2011 DENVER X-RAY CONFERENCE DXC2011, Aug 2011, Colorado Springs, United States. pp.216-227 |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|