Multiparameter electronic tools quality level linear transformation models
| Autor: | Eidukas, D., Kalnius, R., Kauno technologijos universitetas |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2010 |
| Popis: | Continuous control main probability characteristic modeling methods for multiparameter electronics tools has been made, when separate independent device parameters defect level probabilistic distributions are “a priori” known. Defected devices flow in control operation is targeted to localized repair operation in this stage, then devices with second type errors goes again into control and “rotates” until all devices are accepted as good. Second type classification errors probabilities (defect device is accepted as good) in control and repair operations are described by one generalized error model, which is used in linear defect level transformation by different parameters. For all device defect level transformation, defect level transformation by different parameters is used. For all defect level transformation, defect levels densities by different parameters combination, is used referencing by transformation model. It is offered to use approximated models instead of exact whole device defect level probabilistic density by different parameters, described by beta law density, because it is the whole model and the exact defect level density is expressed by many different models in every partial interval of integration. This method simplifies modeling procedure, without decreasing engineering analysis accuracy. Sudaryta daugiaparametrių mechatroninių gaminių ištisinės kontrolės pagrindinių tikimybių charakteristikų modeliavimo metodika, kai atskirų nepriklausomų gaminio parametrų defektingumo lygių tikimybiniai skirstiniai yra aprioriškai žinomi. Išbrauktų gaminių srautas kontrolės operacijoje yra nukreipiamas į šio etapo lokalizuotą remonto operaciją, po kurios gaminiai su antros rūšies klaida vėl patenka į kontrolę ir pakartotinai „sukasi“ tol, kol kontrolėje visi gaminiai pripažįstami gerais. Antros rūšies klasifikavimo klaidų tikimybės (defektingas gaminys pripažįstamas geru) kontrolės ir remonto operacijose aprašomas vienu apibendrintos klaidos modeliu, kuris taikomas tiesinei defektingumo lygių transformacijai pagal atskirus parametrus. Viso gaminio defektingumo lygio transformacijai taikomas defektingumo lygių tankių pagal atskirus parametrus sujungimas, remiantis transformacijos modeliu. Pasiūlyta vietoj tikslių viso gaminio defektingumo lygio tikimybių tankio transformuotų modelių taikyti aproksimuotus modelius, aprašomus apibendrinto beta dėsnio tankiu, nes tai vientisas modelis, o tikslus defektingumo lygio tankis išreiškiamas daugeliu skirtingų modelių kiekviename integravimo rėžių daliniame intervale. Tai gerokai supaprastina modeliavimo procedūrą, bet nesumažina inžinerinės analizės rezultatų tikslumo. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|