Dependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía

Autor: Bravo Cabrejos, Jorge A.
Jazyk: Spanish; Castilian
Rok vydání: 2015
Předmět:
Zdroj: Revista de Investigación de Física; Vol. 18 No. 1 (2015); 1-5
Revista de Investigación de Física; Vol. 18 Núm. 1 (2015); 1-5
Revistas Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Universidad Nacional Mayor de San Marcos
instacron:UNMSM
ISSN: 1728-2977
1605-7724
Popis: A theoretical model is presented to calculate the energy and relative intensity of escape peaks corresponding to the characteristic X-rays present in an energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) spectrum. The escape peaks of elements present in high concentration in a sample interfere with the identification of characteristic X-rays of elements present in low concentration. The results of this analysis have been used to simulate with good results the presence of the escape peaks in a sample of wood ashes with high concentration of K and Ca. Se presenta el modelo teórico para calcular la energía e intensidad relativa de los picos de escape correspondientes a los rayos-X característicos presentes en un espectro de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía (FRXDE). Los picos de escape de elementos presentes en una muestra en alta concentración interfieren con la identificación de rayos-X característicos de elementos presentes en muy baja concentración. El resultado de este análisis se utiliza para simular con buenos resultados la presencia de los picos de escape de una muestra de ceniza de madera que contiene K y Ca en alta concentración
Databáze: OpenAIRE