Interferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica

Autor:	Reyna Ocas, Albert, Contreras Verástegui, Ilich, Lozano Bartra, Whualkuer
Jazyk:	Spanish; Castilian
Rok vydání:	2011
Předmět:	piezoelectricity oscilador forzado forced oscillator Interferómetro de Michelson piezoelectricidad Michelson interferometry
Zdroj:	Revista de Investigación de Física; Vol. 14 No. 01 (2011); 1-4 Revista de Investigación de Física; Vol. 14 Núm. 01 (2011); 1-4 Revistas Universidad Nacional Mayor de San Marcos Universidad Nacional Mayor de San Marcos instacron:UNMSM
ISSN:	1728-2977 1605-7724
Popis:	In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulating its behaviour like a driven oscillator. En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::1092dfe1bffb25e3a7dcf25b5c183f02 https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8727 Zobrazit plný text záznamu