Повышение качества проведения магнитопорошковой дефектоскопии объектов с подповерхностными дефектами

Jazyk: ruština
Rok vydání: 2014
Předmět:
Zdroj: Вестник науки Сибири.
ISSN: 2226-0064
Popis: В данной работе авторы исследуют назначение образцов с подповерхностными и поверхностными дефектами для магнитопорошковой дефектоскопии и отвечают на вопрос, могут ли эти образцы использоваться в качестве стандартных образцов. Обзор и анализ известных образцов выявил, что образцы с поверхностными дефектами могут быть использованы как контрольные и стандартные образцы, а образцы с подповерхностными дефектами неприменимы в качестве стандартных образцов, так как параметры подповерхностных дефектов отличаются по параметрам от дефектов металлургического происхождения. Исходя из этого, в статье поставлена следующая проблема: отсутствие стандартного образца с подповерхностными дефектами металлургического происхождения и необходимыми метрологическими свойствами для магнитопорошковой дефектоскопии. Авторами предложено решение поставленной проблемы универсальный образец для магнитной и вихретоковой дефектоскопии (заявка на выдачу патента № 2014103869 РФ).
The authors examine the appointment of samples with subsurface and surface defects for magnetic particle testing and answer the following question: can these samples be used as a standard samples? The review and the analysis of the existing samples shown the following: 1) the samples with surface defects can be used as standard and control samples; 2) samples with subsurface defects can be used only as a control because subsurface defects of existing samples are different from defects of metallurgical origin by the parameters (such defects as slag and gas blowholes, exogenous metallic and metallic inclusions). Based on this, the article states the following problem: there is no standard sample with subsurface defects with the necessary metrological properties for magnetic particle testing. The authors proposed a solution of the problem The Universal Sample for the Magnetic and Eddy Current Testing (patent application number 2014103869 RF).
Databáze: OpenAIRE