Прогнозирование надежности радиоэлектронных устройств на основе теплофизического моделирования
| Jazyk: | ruština |
|---|---|
| Rok vydání: | 2015 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Новые исследования в разработке техники и технологий. |
| Popis: | Одним из наиболее важных факторов, определяющих надёжность радиоэлектронных устройств, является температура, при этом, наиболее часто для расчётов тепловых режимов используются математические модели с сосредоточенными параметрами, обладающие низкой точностью. В настоящее время известны многомерные математические модели, с большей степенью адекватности описывающие процессы теплопереноса в радиоэлектронных устройствах. Целью данной работы является анализ надёжности элементов радиоэлектронных устройств с применением современного аппарата теории надёжности и методов многомерного математического моделирования температурных полей. В данной работе произведено сопоставление показателей надёжности типичных электрорадиоэлементов, полученных на базе пространственных температурных полей и средних по объёму температур тепловыделяющих элементов. The article draws the attention to the fact that one of the most important factors defining electronics reliability is the temperature. Rather frequently, for thermal conditions calculating lumped parameter mathematical models are used which provide low accuracy. Now there are many multidimensional mathematical models, with a greater degree of adequacy describing thermal transfer processes in electronics. The paper analyzes electronics elements reliability with the use of the modern theory of reliability and methods of multidimensional mathematical temperature fields modelling. It presents a comparison of reliability parameters of the typical received on the basis of extensional temperature fields and average temperature range of fuel elements. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
