Hierarchical approaches to test generation and fault simulation

Autor:	UBAR R.
Jazyk:	ruština
Rok vydání:	2003
Zdroj:	Радиоэлектроника и информатика.
ISSN:	1563-0064
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::491647a1db5098ea605362f5346c40e7 http://cyberleninka.ru/article_covers/15920098.png Zobrazit plný text záznamu