| Jazyk: |
ukrajinština |
| Rok vydání: |
2015 |
| Předmět: |
|
| Zdroj: |
Міжнародна науково-технічна конференція «Радіотехнічні поля, сигнали, апарати та системи» : матеріали конференції, 16–22 березня 2015 р., м. Київ, Україна |
| Popis: |
Розглянуто програмні модулі для розрахунку температур елементів електронної структури, а за ними показників показників надійності радіоелектронного апарату. Визначено перелік даних необхідних для розрахунку температурного поля чарунки чи мікрозбірки, а також для розрахунку показників надійності елементів електронної структури. Reviewed software modules for the calculation of the temperatures of the electronic structure elements and the reliability of electronic equipment. The list of data needed to calculate the temperature field of cell or microassembly, and to calculations of reliability performance of the electronic structure elements were defined. Рассмотрены программные модули для расчета температур элементов электронной структуры, а по ним показателей надежности радиоэлектронного аппарата. Определен перечень данных необходимых для расчета температурного поля ячейки или микросборки, а также для расчета показателей надежности элементов электронной структуры. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
