Measurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonator
| Autor: | Molchanov, V. І., Pashkov, V. M., Tatarchuk, D. D., Franchuk, A. S. |
|---|---|
| Jazyk: | ukrajinština |
| Rok vydání: | 2015 |
| Předmět: |
тонкий діелектричний резонатор
semiconductor materials the frequency dependence of losses the loss tangent the conductivity чутливість методу диэлектрическая проницаемость СВЧ параметры 621.372.41 діелектрична проникність диэлектрический резонатор the dielectric permittivity чувствительность метода НВЧ параметри тангенс угла диэлектрических потерь the quasi-Debye mechanism тангенс кута діелектричних втрат |
| Zdroj: | Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал |
| Popis: | У статті розглянуто метод тонкого діелектричного резонатора для вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів, його переваги і недоліки. Показано, що запропонований метод має високу чутливість і може бути використаний для вимірювання параметрів тонких діелектричних плівок, нанесених на підкладку. The article describes the method of thin dielectric resonator for measuring parameters of microwave dielectric materials, its advantages and disadvantages. It is shown that the proposed method has a high sensitivity and can be used for measuring the dielectric thin films deposited on a substrate. В статье рассмотрен метод тонкого диэлектрического резонатора для измерения СВЧ параметров диэлектрических материалов, его преимущества и недостатки. Показано, что предложенный метод имеет высокую чуствительность и может быть использован для измерения параметров тонких диэлектрических пленок, нанесенных на подложку. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|