MAD - MODULE D'ANALYSE DYSFONCTIONNELLE D'AIDE A LA REALISATION DES AMDEC D'EQUIPEMENTS ELECTRONIQUES
| Autor: | Dreyfus, S., Jerbi, Y, Letellier, B. |
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| Přispěvatelé: | THALES COMMUNICATIONS & SECURITY, THALES |
| Jazyk: | francouzština |
| Rok vydání: | 2018 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Congrès Lambda Mu 21, « Maîtrise des risques et transformation numérique : opportunités et menaces » Congrès Lambda Mu 21, « Maîtrise des risques et transformation numérique : opportunités et menaces », Oct 2018, Reims, France |
| Popis: | International audience; Summary MAD (Dysfunctional Analysis Module) was developed to help the engineer in charge of electronic board FMECA at Technical Function (TF) level. The module allowed to fill semi-automatically the "Failure Mode" and "% Failure Mode (% FM)" columns. MAD uses electronic circuit simulator to simulate the same function in nominal state then in fail state (only one fail component each time) and to compare the resulting graphs. Compiling the analysis results, weighted by the TF component failure rate, gives the Technical Function Failure Mode ratio (% FM); Nous avons développé MAD (Module d'Analyse Dysfonctionnelle) dans le but d'aider le réalisateur d'AMDEC de cartes électroniques au niveau Fonction Technique (FT). Le module permet de remplir semi-automatiquement les colonnes « Mode de Défaillance » et leur pourcentage associé. Le principe de fonctionnement de MAD est d'utiliser un outil de simulation de circuits électroniques pour simuler la même fonction à l'état « nominal » puis à l'état « défaillant » (un composant défaillant à chaque fois) et de comparer ensuite les courbes obtenues. La compilation des résultats d'analyses, pondérée par le taux de défaillance des composants de la FT permet de calculer les « % Mode de défaillance » de la FT. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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