Photographic materials
Autor: | Verlinden, G., Gijbels, Renaat, Geuens, I. |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2001 |
Zdroj: | TOF-SIMS: surface analysis by mass spectrometry / Vickerman, J. [edit.] |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Autor: | Verlinden, G., Gijbels, Renaat, Geuens, I. |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2001 |
Zdroj: | TOF-SIMS: surface analysis by mass spectrometry / Vickerman, J. [edit.] |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |