Розрахунок спектральних характеристик резонансно-тунельних структур на основі методу S-матриці

Jazyk: ukrajinština
Rok vydání: 2015
Předmět:
Popis: Інтерес до вивчення резонансно-тунельних структур зумовлений їх широким використанням у приладах твердотілої наноелектроніки. Зокрема, було продемонстроване застосування цих структур при створенні резонансно-тунельних діодів (РТД), цифро-аналогових перетворювачів, задаючих генераторів, регістрів зсуву та статичних запам’ятовуючих пристроїв із довільною вибіркою.
Databáze: OpenAIRE