Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку
| Přispěvatelé: | Національний університет 'Львівська політехніка' |
|---|---|
| Jazyk: | ukrajinština |
| Rok vydání: | 2001 |
| Předmět: | |
| Popis: | Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності мікроструктур електронних засобів. Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|