SIM comparison of dc resistance at 1 [ohm], 1 M[ohm], and 1 G[ohm]

Autor: Jarrett, D. G., Elmquist, R. E., Zhang, N. F., Tonina, A., Porfiri, M, Fernandes, J., Schechter, H., Izquierdo, D., Faverio, C., Slomovitz, D., Inglis, A., Wendler, K., Hernandez, F., Rodriguez, B.
Přispěvatelé: IEEE
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2009
Popis: 2008 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest : CPEM 2008, June 8-13, 2008, Broomfield, Colorado, USA
Databáze: OpenAIRE