Secondary Phase Instability in ZrO2-Doped Silicon Nitride During High-Temperature Testing

Autor:	Braue, W., Kleebe, H.J., Goering, J.
Rok vydání:	1996
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1640::e8f47cd385f70ee4aa8e7885a770a222 https://elib.dlr.de/43177/ Zobrazit plný text záznamu