Towards analysing Feature Locations through Testing Traces with BUT4Reuse

Autor:	Martinez, Jabier, Malburg, Jan, Ziadi, Tewfik, Fey, Görschwin
Rok vydání:	2015
Předmět:	Design Understanding Electronic Design Automation
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1640::478aa42dd0fc7784b95bfc4bfe69d79b https://elib.dlr.de/105998/ Zobrazit plný text záznamu