Testing Induced Nanoscale Instability of Secondary Phases in Si3N4: The TEM Approach to High-Temperature Microstructures

Autor:	Braue, W., Kleebe, H.J.
Rok vydání:	1996
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1640::40fb32c958c2f9cdd2ab896d2276ccae https://elib.dlr.de/43180/ Zobrazit plný text záznamu