Sizing and Layout Integrated Optimizer for 28nm Analog Circuits Using Digital PnR Tools

Autor: Stas, François, Guerric de Streel, Bol, David, IEEE International NEWCAS Conference
Přispěvatelé: UCL - SST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2016
Zdroj: Proc IEEE NewCAS, (2016)
Databáze: OpenAIRE