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Foi desenvolvido um sistema para a medição do efeito electróptico em meios ópticos com propriedades de óptica não-linear. O sistema baseia-se numa técnica interferométrica implementada através de um interferómetro de Michelson funcionando em modo de transmissão, no qual se mede a diferença de fase entre os ramos do interferómetro gerada pelo efeito electróptico numa amostra onde é aplicado um potencial elétrico. O coeficiente electróptico a ser medido, pode ser escolhido pela aplicação do sinal eléctrico de uma amostra na direção adequada bem como do alinhamento desta num porta-amostras. O sistema foi calibrado usando um cristal com propriedades ópticas não-lineares padrão, o fosfato de dihidrogénio e potássio, tendo sido utilizado o coeficiente electróptico r63 como referência. O valor medido experimentalmente foi de 10;5 0;2pm=V , pelo que o valor tabelado se encontra dentro desta medida. A bancada óptica implementada revelou também estabilidade no que diz respeito ao ruído ambiente. Este sistema será utilizado no futuro para a medição de coeficientes electrópticos em filmes finos poliméricos, que contenham cromóforos com polarizabilidades electrónicas não-lineares elevadas. |
