Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors
Autor: | Boettcher, Sven |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 1996 |
Předmět: | |
DOI: | 10.3204/PUBDB-2016-03817 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Autor: | Boettcher, Sven |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 1996 |
Předmět: | |
DOI: | 10.3204/PUBDB-2016-03817 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |