Picosecond strain Dynamics in ${\mathrm{Ge}}_{2}{\mathrm{Sb}}_{2}{\mathrm{Te}}_{5}$ monitored by time-resolved X-ray Diffraction

Autor: Fons, Paul, Rodenbach, Peter, Simpson, Robert E., Hase, Muneaki, Mitrofanov, Kirill V., Kolobov, Alexander V., Tominaga, Junji, Shayduk, Roman, Giussani, Alessandro, Calarco, Raffaella, Hanke, Michael, Riechert, Henning
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2014
Předmět:
Zdroj: Physical review / B 90(9), 094305 (2014). doi:10.1103/PhysRevB.90.094305
Databáze: OpenAIRE