Picosecond strain Dynamics in ${\mathrm{Ge}}_{2}{\mathrm{Sb}}_{2}{\mathrm{Te}}_{5}$ monitored by time-resolved X-ray Diffraction
Autor: | Fons, Paul, Rodenbach, Peter, Simpson, Robert E., Hase, Muneaki, Mitrofanov, Kirill V., Kolobov, Alexander V., Tominaga, Junji, Shayduk, Roman, Giussani, Alessandro, Calarco, Raffaella, Hanke, Michael, Riechert, Henning |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2014 |
Předmět: | |
Zdroj: | Physical review / B 90(9), 094305 (2014). doi:10.1103/PhysRevB.90.094305 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |