Advanced integrated solutions based on atomic-force microscopy

Autor:	Vysokikh, Yu. E., Krasnoborodko, S. Yu., Kozodaev, D. А.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2019
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______917::f02165a90744b31771790b96f8633662 https://hdl.handle.net/10995/79201 Zobrazit plný text záznamu