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Die Erweiterung digitaler Schaltungen um analoge Elemente zu Mixed-Signal-Schaltungen sowie die Einbeziehung von Speicher-, Fuzzy- und Scan-Path-Elementen stellen neue Anforderungen an den Schaltungstest. Die ausgewählten Beispiele "Mixed-Signal-Test mit HP82000, "Generierung algorithmischer Testvektoren" und "Test von Designs mit Scan-Fähigkeit" sollen zeigen, wie durch Eigenentwicklungen die Testmöglichkeiten mit dem im IMS vorhandenen digitalen Testsystem HP82000 erweitert wurden. Damit ist das Testsystem für den automatischen Test von Digitalschaltungen, Mixed-Signal-Schaltungen und integrierten Mikrosystemen geeignet. Mit der vorgestellten on-wafer Mikrowellenmeßtechnik verfügt das IMS über einen weiteren Meßtechnikkomplex, der auch für die Lösung anwenderspezifischer Aufgabenstellungen auf diesem Gebiet eingesetzt wird. |
