3D-CMOS-Kamerasystem mit TOF-Messmethode

Autor: Brockherde, W., Schrey, O.M., Dinkelbach, R.
Přispěvatelé: Publica
Jazyk: němčina
Rok vydání: 2003
Předmět:
Popis: Das Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS) hat in Zusammenarbeit mit Siemens ein 3D-CMOS-Kamerasystem entwickelt, welches eine echte 3D-Aufnahme durch Verwendung des so genannten Time-of-Flight (TOF)-Prinzips mit Kurzzeit-Laserpuls-Beleuchtung vornimmt.
Databáze: OpenAIRE