3D-CMOS-Kamerasystem mit TOF-Messmethode
| Autor: | Brockherde, W., Schrey, O.M., Dinkelbach, R. |
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| Přispěvatelé: | Publica |
| Jazyk: | němčina |
| Rok vydání: | 2003 |
| Předmět: | |
| Popis: | Das Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS) hat in Zusammenarbeit mit Siemens ein 3D-CMOS-Kamerasystem entwickelt, welches eine echte 3D-Aufnahme durch Verwendung des so genannten Time-of-Flight (TOF)-Prinzips mit Kurzzeit-Laserpuls-Beleuchtung vornimmt. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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