‘Influence of neutron irradiation on electron traps induced by NGB stress in AlInN/GaN HEMTs’
| Autor: | Petitdidier, S., Guhel, Y., Brocero, G., Eudeline, P., Trolet, J. L., Mary, P., Boudart, C. Gaquière et B. |
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| Přispěvatelé: | Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072, Groupe de Recherche en Informatique, Image, Automatique et Instrumentation de Caen (GREYC), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2017 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017 |
| ISSN: | 0018-9499 |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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