Optimal scan for pipelined testing: an asynchronous foundation
| Autor: | Roncken, M., Aarts, E.H.L., Verhaegh, W.F.J. |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Algorithms, Geometry and Applications |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 1996 |
| Zdroj: | Proceedings IEEE International Test Conference 1996 (Washington DC, USA, October 20-25, 1996), 215-224 STARTPAGE=215;ENDPAGE=224;TITLE=Proceedings IEEE International Test Conference 1996 (Washington DC, USA, October 20-25, 1996) |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|