Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Domovská stránka
Photolithographic patterning o...
Jednotky
Navrhnout nákup titulu
Photolithographic patterning of the charge-density-wave conductor Rb 0.30 MoO 3
Autor:
Van der Zant, H.S.J.
,
Mantel, O.C.
,
Heij, C.P.
,
Dekker, C.
Jazyk:
angličtina
Rok vydání:
1997
Předmět:
A6820 Solid surface structure
A8160J Surface treatment and degradation of polymers and plastics
600 nm
A7360 Electrical properties of thin films and low dimensional structures
A8115I Pulsed laser deposition
CDW
180 K
Rb sub 0.30 MoO sub 3
Peierls instability
A6855 Thin film growth
structure
and epitaxy
A7145L Charge density wave systems
electrical transport
mesoscopic systems
photolithography
pulsed laser deposition
grain size
20 to 300 K
rubidium compounds
charge density wave
charge density wave conductor
charge density waves
mesoscopic phenomena
current voltage characteristics
electrical transport measurements
phase coherent CDW transport
INSPEC
Peierls transition
thin films
A7335 Mesoscopic systems and quantum interference
patterned structures
2.5 mum
A7215N Collective modes: low dimensional conductors
photolithographic patterning
SEM
transport
nonlinear current voltage characteristics
400 to 500 C
scanning electron microscopy
electrical resistivity
Zdroj:
Synthetic Metals 86(1-3), 1781-1784. (1997)
ISSN:
0379-6779
Databáze:
OpenAIRE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::d5b5fad9de6cdaf3ce4de4c9e6e03487
http://resolver.tudelft.nl/uuid:4fb1277b-8789-4c18-a8a5-bf0c57d5e927
Zobrazit plný text záznamu
Full Text from ScienceDirect
Jednotky
Popis
Exportovat záznam
Export to RIS
×
načítá se......