Circuit Hot-Electron Degradation with PRESS

Autor:	Lunenborg, M.M., Wolbert, P.B.M., Meijer, P.B.L., Nguyen, T.P., Verweij, J.F.
Rok vydání:	1993
Předmět:	METIS-117380
Zdroj:	FOM Werkgemeenschap Halfgeleiders 1993
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::58cb6e8080bf676da9cc67944282d50f https://research.utwente.nl/en/publications/circuit-hotelectron-degradation-with-press(96bb53d5-d03a-49e2-a750-4fc14f993ce3).html Zobrazit plný text záznamu