A wide band transmission mode spectrometer for diagnosis of EUV sources
Autor: | Barreaux, J.L.P., Bayraktar, M., Bastiaens, H.M.J., Bruineman, C., Vratzov, B., Bijkerk, F. |
---|---|
Přispěvatelé: | Laser Physics & Nonlinear Optics, XUV Optics |
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2015 |
Zdroj: | 2015 International Symposium on Extreme Ultraviolet Lithography |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |