Strong reduction of artifacts in AFM measurements by high frequency diode laser modulation
Autor: | van der Werf, Kees, Kassies, R., Bennink, Martin L., Subramaniam, Vinod |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2004 |
Zdroj: | Dutch SPM Day 2004 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |