Quantitative analytical and high resolution TEM of heterophase interfaces
| Autor: | Kooi, B.J., Mogck, S., de Hosson, J.T.M. |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Nanostructured Materials and Interfaces, Zernike Institute for Advanced Materials |
| Jazyk: | Dutch; Flemish |
| Rok vydání: | 2002 |
| Zdroj: | Host Publication, 539-542 STARTPAGE=539;ENDPAGE=542;TITLE=Host Publication |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|