Development of Kelvin probe force microscopy and its basic properties

Autor:	Satoh, Nobuo, Wakita, Kazuki
Jazyk:	japonština
Rok vydání:	2014
Předmět:	原子間力顕微鏡，広域調整，表面電位，エネルギーバンド図 Atomic force microscopy Amplitude modulation Surface Potential Energy band diagram
Zdroj:	千葉工業大学研究報告 理工編. 61:53-58
ISSN:	0385-7026
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::d9720d4b50e22782654cf8d3a46cb9df https://cit.repo.nii.ac.jp/records/37 Zobrazit plný text záznamu