アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減

Autor:	Peter, SARSON
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2018
Předmět:	半導体 LSI試験 LSI Test Analog Circuit Mixed-Signal IC アナログ回路 Semiconductor ミックスト信号集積回路
Popis:	学位記番号：理工博乙11号
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::c257c893de3cf616f4240a97ad23480a http://hdl.handle.net/10087/12326 Zobrazit plný text záznamu