低化成電圧で作製したAl3Hf陽極酸化膜キャパシタの熱劣化機構

Jazyk: japonština
Rok vydání: 2000
Předmět:
Zdroj: 電子情報通信学会論文誌. (7):663-665
Popis: 30V化成したAl3Hf陽極酸化膜キャパシタの,熱劣化の原因をオージェ電子分光分析によって検討した。その結果,Al上部電極/陽極酸化膜界面が崩壊することにより,金属状態のAlが陽極酸化膜中でわずかにつながった状態になるために,キャパシタが短絡することがわかった。
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Databáze: OpenAIRE