低化成電圧で作製したAl3Hf陽極酸化膜キャパシタの熱劣化機構
Jazyk: | japonština |
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Rok vydání: | 2000 |
Předmět: | |
Zdroj: | 電子情報通信学会論文誌. (7):663-665 |
Popis: | 30V化成したAl3Hf陽極酸化膜キャパシタの,熱劣化の原因をオージェ電子分光分析によって検討した。その結果,Al上部電極/陽極酸化膜界面が崩壊することにより,金属状態のAlが陽極酸化膜中でわずかにつながった状態になるために,キャパシタが短絡することがわかった。 Copyright (c) by IEICE 許諾番号:09RC0079 IEICE Transactions Online : http://search.ieice.org/index.html application/pdf |
Databáze: | OpenAIRE |
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