Micro-patteming of chemical functionality of anthracene-bis-resorcinol film using focused ion beam

Autor:	Yoshikawa, H, Namba, S, Yokote, Y, Aoyama, Y, Masuhara, H
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2005
Předmět:	focused ion beam inclusion compound fluorescence spectrum atomic force microscope anthracene-bis-resorcinol
Zdroj:	APPLIED SURFACE SCIENCE. 252(5):2063-2070
ISSN:	0169-4332
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::a03cce8ad441d1b09fd8dc953c72ef25 http://hdl.handle.net/2433/8585 Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect