Siウェハライフタイム測定条件の最適化

Jazyk: japonština
Rok vydání: 2021
Předmět:
Zdroj: 九州大学応用力学研究所技術室 技術室報告. 3:8-12
Popis: 半導体デバイスの特性と製造工程におけるSi ウェハの性質を包括的に評価する指標として、少数キャリアライフタイムが挙げられる。ライフタイムを正しく評価するためには、表面再結合を抑制し、バルクライフタイムの測定手法を確立する必要がある。本報告では、キンヒドロン-メタノール溶液によるパッシベーションを施したSi ウェハのライフタイムを測定し、溶液の組成等がライフタイムに与える影響を考察することで、測定条件の最適化を試みた。
Databáze: OpenAIRE