Characterization of Read-Out Drain Current Degradation in Ferroelectric-Gate Transistors

Autor:	TOKUMITSU, EISUKE, Saiki, Hirokazu
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2007
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::8f18b1fb0b000bec86ac99da0f7f95f6 http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100508737 Zobrazit plný text záznamu