Evaluation of Multi-layered Currents by the Least Squares Method
| Jazyk: | japonština |
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| Rok vydání: | 2001 |
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| Zdroj: | 法政大学計算科学研究センター研究報告 = Bulletin of Computational Science Research Center, Hosei University. 14:63-67 |
| ISSN: | 0913-8420 |
| Popis: | 現代の電気電子デバイスでは多層構造をもつプリント基板形配線が広汎に使われている。電子デバイスを解体せずに内蔵された各プリント基板上の電流分布を可視化することができればデバイスの検査や、EMC問題を検証する上で重要な役割を果たす。本論文には局所的に測定した周辺磁界分布から各プリント基板の電流分布を推定する方法を提案する。磁界を利用した電流の可視化は不適切な逆問題を解かなければならない。本論文では最小自乗法を用いることで信頼性の高い非破壊検査方法を提案する。 Modern electronic devices always contain printed circuit boards (PCBs) with multiple layers. If the currents in the PCBs can be visualized without disassembling the electronic devices, the testing and inspection of the devices can be carried out extremely efficiently.This paper proposes a methodology for estimating the current distribution in multi-layered PCBs. The estimation of the current distributions in a PCB from locally measured magnetic fields can always be reduced to solution of an ill-posed inverse problem. This paper reveals that the conventional least squares method give a reasonable solution of our inverse problem. Thus, we succeeded in realizing a highly reliable non-destructive testing methodology for electronic devices. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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