Reliable Logic Circuits with Byte Error Control Codes -- a Feasibility Study

Autor:	Kitakami, Masato
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	1996
Zdroj:	Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. :286-294
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::7a733c0aa77974e1d9b8f7aab34c3e2d http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100422741 Zobrazit plný text záznamu